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涂镀层测厚仪F-G探头在非铁磁性基板上的校准
时间：2020-03-26来源：众研仪器浏览次数：0
为了保证在测量镍镀层厚度时仪器的读数与实际厚度相符，需要对涂镀层测厚仪探头执行校准。
使用金属涂层厚度参考样品或在具有已知涂层厚度的部件或结构的准备样品上进行涂镀层测厚仪探头的校准。在任何情况下，探头校准都假设设置了其灵敏度。
1、 准备一套金属涂层厚度参考样品“在样品基板上的金属涂层厚度参考样品”。
金属镀层厚度参考样品不仅要经过物理量(米)的尺寸，还要承载有关涂层和基板材料(电导率、渗透率)性质的信息。
2、按键盘上的
键激活面板功能键“Calibration ”（校准）。
2、按键盘上的
键激活面板功能键“Calibration ”（校准）。
3、根据“F-G探头测量涂层厚度”对样品基板上的金属镀层厚度基准试样执行测量；
4、将探头向上提起，距离大于200mm，必须从右上角消失以下符号“
”，并听到两个短音频信号，显示最后测量结果hp；5、 使用功能键
(增加)和
(减少)实现Hmax和hp的相等，测量误差不超过所连接探头规定的值。当按压和握住功能键
时，显示屏上的值会增加，当按下并按住功能键
时，显示屏上的值会减少。这样就可以设置探头的灵敏度。完成上述步骤后，对样品基板和金属镀层参考样品执行多项测试测量。如果测量误差不超过给出的值，可以开始测量。否则重复探头灵敏度调整。
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